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當前位置:首頁  /  產品中心  /  其他專用儀器  /  測定儀  /  HAD-HGM-200身體重測量儀

身體重測量儀

產品簡介

身體重測量儀 型號;HAD-HGM-200采用微電腦控制和的聲波測量,自動測量身、體重,測量結果數碼顯示并語間報出。本機是院、學校、體檢中心和健身房等的理想選擇。


主要參數:

測范圍:100-200cm 分度值:0.5cm

稱重范圍:8kg-160kg 分度值:0.1kg

機身度:240cm

作電壓:AC220V

產品型號:HAD-HGM-200
更新時間:2025-02-08
廠商性質:生產廠家
訪問量:511
詳細介紹
品牌其他品牌產地類別國產
應用領域能源,電子,交通,汽車,電氣

身體重測量儀   型號;HAD-HGM-200

HAD-HGM-200型身體重測量儀采用微電腦控制和的聲波測量,自動測量身、體重,測量結果數碼顯示并語間報出。本機是院、學校、體檢中心和健身房等的理想選擇。


主要參數:

測范圍:100-200cm 分度值:0.5cm

稱重范圍:8kg-160kg 分度值:0.1kg

機身度:240cm

作電壓:AC220V 50HZ

率:6W<

整機度: 231cm






2.智能顆粒強度測定儀/顆粒強度測定儀/顆粒強度檢測儀  型號:HADL3

簡介

       HADL3型智能顆粒強度測定儀是一種具有智能化的測量儀器,它是繼DLII型智能顆粒強度測定儀之后推出的新一代產品。其電路原理及結構作了重大改進,整機功能進一步提高。可廣泛應用于化工、醫藥、石油等行業中的催化劑、分子篩、磷化鋁、氧化鋁、吸附劑等球狀、條狀、柱狀剛性物料破碎強度的測定。它是微機技術、電子技術和機械技術相結合的綜合產物,采用單片微型計算機作為整個儀器的控制核心,采用高精度力傳感器作為檢力元件,采用高精度測長裝置作為測長儀,精密運算放大器保證了模擬信號的線性處理。該儀器精度高,功能全,操作簡單,具有較高的性能價格比。儀器具有數據存貯、數據重復顯示和計算的功能。如果單使用強度測定儀,它可以將每顆樣品的破碎力值顯示并存儲,可計算出平均值、標準離差、變異系數、低強度百分比等有關標準中所規定的各種數值,可重復顯示。

本測定儀具有穩定的加力速度,保證了測試的準確。
若需測出條狀樣品的徑向破碎強度、柱狀樣品的軸相破碎強度,需配以專用測長儀并可自動算出、顯示上述數值。
連接專用打印機可打印出具有測試和計算結果的《強度測試報告》。
專用測長儀和打印機需另行購買。
本測定儀可根據不同行業客戶的需求,可增加儀器與微機通訊的功能(選配功能接口板)。
通過串行通信電纜使上位機與本儀器相連,用戶自行編寫上位機通信軟件與儀器進行通信控制,將該儀器作為測試平臺的一部分。系統集成后,通過上位機平臺軟件控制與該儀器進行數據交換,使該儀器的測試數據上傳到上位機,由上位機進行統一的數據分析與處理。
通過系統集成,可以使數據進行電子化管理,減少了人為統計數據過程中錯誤的發生,降低了測試人員數據統計的繁瑣勞動。方便測試數據的全面分析和歷史數據的保存,及對產品的開發過程或生產質量狀況進行跟蹤。

 

 

 

 

 

 

 

 

3.銹蝕腐蝕測定儀專用拋光機/銹蝕拋光機  型號:HAPG-1

用于對銹蝕棒的拋光,使之達到試驗要求的光潔度。
★轉速:3600rpm。

 

 

 

 

4.光合有效輻射計 有效輻射計 型號:HAD-GLZ-A/B/C

光合有效輻射計的詳細介紹

儀器名稱:光合有效輻射計(光量子計)

儀器型號:HAD-GLZ-A/B/C

 

 

 

 

5.粉末電阻率測試儀/半導體粉末電阻率測試儀     型號;HHY8-FZ-2010

 HHY8-FZ-2010半導體粉末電阻率測試儀是本公司根據能源方面,與其是鋰電池技術的研究需求,開發的最新型粉末電阻率測試儀。

本產品參照有關國際標準設計,配置粉末測試臺或四探針測試臺,可以對粉末、片狀、塊狀半導體材料以 及固態金屬進行電阻、電阻率、方塊電阻等多用途測量。

測量范圍:電阻10-4---106,分辨率1μΩ. ㎝。

          電阻率 10-4---106,分辨率1μΩ. ㎝。

          薄層電阻  10-3 ---- 107 Ω/□ ,分辨率10-5  Ω/□。

測量電壓量程:0.2mv\2mv\20mv\200mv\2v,分辨率0.1μν,測量精度  ±(0.3%讀數+2字)。

測量電流:0--100mA 連續可調。電流量程 1μΑ、10μΑ、100μΑ、1mΑ、10mΑ、100mΑ。

粉末測量:1、試樣粒度--標準篩網40目以上直至納米材料。 2、試樣容器---內腔φ16.30±0.1mm或φ6±0.1mm。 3、試樣高度---16mm±0.5mm或6~20mm±0.1mm。測量誤差±0.1mm。4、取樣壓力--4Mpa±0.5Mpa(40kg/cm2 ±0.5kg/cm2  )或8Mpa±0.5Mpa(80kg/cm2   ±0.75kg/cm2 ),壓力量程--0~200kg可調。

固體薄膜及半導體測量:四探針測試架---1、探針間距1mm±0.03mm;2、探針游移率﹤±0.3%;3、可測材料尺寸--直徑φ15~160mm,長度<400mm。

顯示方式:3?位數字顯示電阻、電阻率、壓力、高度。單位、小數點自動顯示。

電源:220±10%  50HZ~60HZ  功率消耗<150W。

外形尺寸: 440mm×120mm×420mm。

以上參數資料與圖片相對應











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